| 1. Identificação | |
| Tipo de Referência | Artigo em Revista Científica (Journal Article) |
| Site | mtc-m16.sid.inpe.br |
| Código do Detentor | isadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S |
| Identificador | 6qtX3pFwXQZsFDuKxG/FrVvp |
| Repositório | sid.inpe.br/marciana/2005/03.14.09.55 |
| Última Atualização | 2008:03.14.18.36.28 (UTC) administrator |
| Repositório de Metadados | sid.inpe.br/marciana/2005/03.14.09.55.10 |
| Última Atualização dos Metadados | 2018:06.05.01.28.50 (UTC) administrator |
| Chave Secundária | INPE-12267-PRE/7593 |
| ISSN | 0185-1101 |
| Chave de Citação | HolyKubAbrPesKop:1993:XrDiSm |
| Título | X-ray diffractometry of small defects in layered systems  |
| Projeto | TECMAT: Tecnologia de materiais |
| Ano | 1993 |
| Mês | Apr. |
| Data de Acesso | 18 maio 2024 |
| Tipo Secundário | PRE PI |
| Número de Arquivos | 1 |
| Tamanho | 340 KiB |
| 2. Contextualização | |
| Autor | 1 Holy, V. 2 Kubena, J. 3 Abramof, Eduardo 4 Pesek, A. 5 Koppensteiner, E. |
| Identificador de Curriculo | 1 2 3 8JMKD3MGP5W/3C9JGUH |
| Grupo | 1 2 3 LAS-INPE-MCT-BR |
| Afiliação | 1 Masaryk University, Faculty of Science, Department of Solid State Physics 2 Masary University, Faculty of Science, Department of Solid State Physics 3 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais, Laboratório Associado de Sensores e Materiais, (INPE. LAS) 4 Johannes Kepler University, Institute of Experimental Physics 5 Johannes Kepler University, Institute of Semiconductor Physics |
| Revista | Revista Mexicana de Astronomía y Astrofísica |
| Volume | 26 |
| Número | 4A |
| Páginas | A146-A150 |
| Histórico (UTC) | 2005-03-14 12:55:12 :: sergio -> administrator :: 2007-04-03 21:52:05 :: administrator -> sergio :: 2008-01-07 12:50:07 :: sergio -> marciana :: 2008-03-14 18:36:28 :: marciana -> administrator :: 2008-06-10 22:05:25 :: administrator -> banon :: 2010-05-12 16:45:36 :: banon -> administrator :: 2018-06-05 01:28:50 :: administrator -> marciana :: 1993 |
| 3. Conteúdo e estrutura | |
| É a matriz ou uma cópia? | é a matriz |
| Estágio do Conteúdo | concluido |
| Transferível | 1 |
| Tipo do Conteúdo | External Contribution |
| Palavras-Chave | SENSORS AND MATERIALS X-ray diffraction Diffraction Crystals SENSORES E MATERIAIS Difração de raio-x Difração Cristais |
| Resumo | X-ray diffraction in thin layers and layered systems is described using the optical coherence approach and the semi-kinematical diffraction theory. Two defect models in thin layers are considered-the mosaic structure model and the model of interface roughness. For both defect models the reflection curves of a thin layer and a superlattice have been calculated and compared with double-crystal X-ray diffractometry results on superlattices and epitaxial layers. The distribution of the diffusely scattered intensity near a reciprocal lattice point has been calculated theoretically for both models and it has been proved experimentally by double- and triple-crystal diffractometry of epitaxial layers with mosaic structure. It has been demonstrated that the theory yields a tool for estimating the predominant defect type in a layered structure. |
| Área | FISMAT |
| Arranjo | urlib.net > Produção anterior à 2021 > LABAS > X-ray diffractometry of... |
| Conteúdo da Pasta doc | acessar |
| Conteúdo da Pasta source | não têm arquivos |
| Conteúdo da Pasta agreement | não têm arquivos |
| 4. Condições de acesso e uso | |
| URL dos dados | http://urlib.net/ibi/6qtX3pFwXQZsFDuKxG/FrVvp |
| URL dos dados zipados | http://urlib.net/zip/6qtX3pFwXQZsFDuKxG/FrVvp |
| Idioma | en |
| Arquivo Alvo | x ray.pdf |
| Grupo de Usuários | administrator banon marciana sergio |
| Visibilidade | shown |
| Detentor da Cópia | SID/SCD |
| Política de Arquivamento | allowpublisher allowfinaldraft |
| Permissão de Leitura | allow from all |
| 5. Fontes relacionadas | |
| Unidades Imediatamente Superiores | 8JMKD3MGPCW/3ESR3H2 |
| Lista de Itens Citando | sid.inpe.br/mtc-m21/2012/07.13.14.44.57 1 |
| Divulgação | PORTALCAPES; SCIELO. |
| Acervo Hospedeiro | sid.inpe.br/banon/2003/08.15.17.40 |
| 6. Notas | |
| Campos Vazios | alternatejournal archivist callnumber copyright creatorhistory descriptionlevel documentstage doi e-mailaddress electronicmailaddress format isbn label lineage mark mirrorrepository nextedition notes orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress readergroup rightsholder schedulinginformation secondarydate secondarymark session shorttitle sponsor subject tertiarymark tertiarytype typeofwork url versiontype |
| 7. Controle da descrição | |
| e-Mail (login) | marciana |
| atualizar | |